932nm窄带滤光片，带宽30nm(成品)
产品号：932BP30OD2T90O12
产品价格：260元/片（不含运费，运费到付）查看价格优惠！
库存尺寸：Φ12.7*6mm(有套圈，无法改尺寸) 更多尺寸...
尺寸说明：如Φ12.7*6，12.7表示直径，6表示厚度(厚度<6无套圈，厚度=6有套圈)
库存状况：有库存 抢先试用→ 
(成品)（缺货后, 定制时间 >1个月, 预付费用约= 8000元）
点击下图 ↓ 查看 详细透过率指标%
材料：浮法玻璃或石英玻璃
入射角：0°
中心波长：932 nm
半高宽:30 nm
峰值透过率: T>90% at 932 nm
截止深度: OD2-200~1150nm OD是什么?
通光口径(mm): >11x11(11.4x11.4),>Φ8.7(Φ12.7)，>Φ21(Φ25.4)
应用领域：932nm窄带滤光片应用于机器视觉
其他指标: 可定制，库位号: B14-21-64
对基底材料、截止深度等有其他要求，您可以：预约定制...
932nm窄带滤光片，带宽30nm
库存状况：有库存 抢先试用→ (成品)（缺货后, 定制时间 >1个月, 预付费用约= 8000元）
安装注意事项：(很多客户反映效果不理想的原因其实是安装问题)
1、滤光片内置安装在CCD前方是最佳方案。
2、兆九光电的滤光片特别适合内置安装在CCD前方（因为厚度薄,不易产生畸变，效果好）。
3、滤光片尽量不要在安装摄像头前方，这样系统成像效果会不好（请注意调整光学方案）。
4、试用请尽量拿库存尺寸，这样发货快，一般在申请批准后4天内到货。
5、试用的时候可以在摄像头或镜头前方试一下效果，但要注意入射角度不要太大，否则成像会有问题。
6、如果系统效果还是不好，请把详细光路系统告诉我们（400-668-5778 ），我们来帮您分析原因，有个客户开始一直不告诉我们系统的详细情况，结果走了很多冤枉路，后来我们帮他一分析，适当修改方案，结果很快就达到想要的效果了，除了滤光片产品外，我们在光学系统设计方面有很强的技术实力（当然，我们会对客户的方案保密，尽可放心！和客户一起成长是我们不变的宗旨）。
客户反馈及相关知识
客户反馈：
x大学光仪系实验室：“你们的窄带滤光片的质量确实很好，就是样品价格有点贵，我用其他好几个公司的产品都不行，结果你们的一放上去就好了，解决我大问题了，希望你们越办越好，等我们研发的产品投产后向贵公司批量采购，以后价格可要优惠哦！”
产品简介及滤光小知识：
泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量932nm窄带滤光片。可见，传感器在科学技术领域、工农业生产以及日常生活中发挥着越来越重要的作用光学镀膜滤光片。3.4接收元件：端窗式G1030光电管。卤素灯的使用寿命较短，一般只有1 000～l 500小时。比如一束白光通过蓝色滤光片，射出的是一束蓝光，而绿光、红光极少，大多数被滤光片吸收了。转换器定位失灵有时可能是定位簧片断裂或弹性变形而造成。遥感就是用装在平台上的传感器来收集（测定）由对象辐射或（和）反射来的电磁波，再通过对这些数据进行分析和处理，获得对象信息的技术。金属－介质膜滤光片的峰值透射率不如全介质膜高﹐但后者的次峰和旁带问题较严重。二.主要特点 1.无损、精确、快速测量各种电镀层的厚度. 2.电镀层可以是单层/双层/三层 3.镀金/镀银/镀镍/镀铜等都可以测量 4.有电镀液成份分析以及金属成份分析等软件 5.易操作/易维护 6.准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 7.测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.15 x 0.15 mm(使用0.15 x 0.15 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.30 x 0.30mm准直器)。膜层的材料﹑厚度和串联方式的选择﹐由所需要的中心波长和透射带宽λ确定。举一个大家都见过的例子，在美国空袭伊拉克时，伊拉克首都大部分地区都处于停电状态，这时除了防空曳光弹和导弹爆炸引起的火光以外就只有月光或星光照明了，能见度极差。系统自动识别样品架及样品编号识别试剂、校准品及其批号、失效期，有的并可识别校验校准曲线等信息。2．要熟悉和灵活运用仪器的相关操作屏(界面) 如：用反应过程监测(Reaction Monitor)，观察反应时间进程曲线；用校准追踪(Calibration Trace)回顾分析校准曲线；利用统计(Statistics)了解不同日期段病人测定均值及数据分析；运用分析数据编辑(Data Edit)察看和校正测定数据。4、载物台。A类：用统计方法确定的分量。在某些仪器上，采样器和加液器组合在一起，加样品和加试剂或稀释液一个探针一次完成。另外，对半导体材料和绝缘体，都能得到满意的图像，对超导薄膜，磁性材料，分子束外延生长的薄膜材料，半导体材料进行了形貌观察，并对多种材料进行了微区成份分析，均能得到满意的结果。3.12.2吸光度精度±0.004A(在0.5A处)。3.9透过率测量范围：0-100%（T）。
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10nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
20nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
30nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
40nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
50nm:50nm以上带通
